<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE dblp SYSTEM "http://www.informatik.uni-trier.de/~ley/db/about/dblp.dtd">
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<dblp><inproceedings mdate="2006" key="Cohen2006">
       <author> Myra B. Cohen</author>
       <author> Matthew B. Dwyer</author>
       <author> Jiangfan Shi</author> 

    <address>New York&#44; NY&#44; USA</address>

    <title>Coverage and adequacy in software product line testing</title>
    <booktitle>ROSATEA &#39;06: Proceedings of the ISSTA 2006 workshop on Role of software architecture for testing and analysis</booktitle>
    <pages>53&#x2013;63</pages>
    <year>2006</year>




    <url>http://portal.acm.org/citation.cfm&#63;id=1147249.1147257&#38;&#35;x0026;coll=Portal&#38;&#35;x0026;dl=GUIDE&#38;&#35;x0026;CFID=65839091&#38;&#35;x0026;CFTOKEN=21681387</url>

    <publisher>ACM</publisher>

    <note>MR: &#34;Unsere&#34; OVM&#45;Notation wird auf ein relationales Modell abgebildet&#44; um damit Abdeckungskriterien f&#252;r das Testen von SPL definieren zu k&#246;nnen. Mit diesen Kriterien kann die Information gesammelt werden f&#252;r sogenanntes &#39;cumulative variability coverage&#39; mit dem gezielt die Testaufw&#228;nde f&#252;r neue Produkte der SPL festgelegt werden k&#246;nnen. Das Ganze wird durch combinatorial interaction testing erm&#246;glicht. Diese Technik (aus Einzelsystemen bekannt) reduziert die hohe Anzahl von m&#246;glichen Kombinationen von Input&#45;Variablen auf wenige Repr&#228;sentanten.&#10;Bei IST&#45;SPL k&#246;nnte man &#252;berlegen&#44; diese Technik als Erg&#228;nzung einer anderen einzuf&#252;hren&#44; um h&#246;here Abdeckungsraten zu erreichen. Der Nachteil ist jedoch immer noch&#44; dass hierbei keine Orakel erstellt werden. Hierf&#252;r verweisen die Spezialisten von Combinatorial Testing auf Model Checking beispielsweise.</note>


    <isbn>1&#45;59593&#45;459&#45;6</isbn>


</inproceedings>
 



<inproceedings mdate="2004" key="Hartmann2004">
       <author> Jean Hartmann</author>
       <author> Marlon Vieira</author>
       <author> Axel Ruder</author> 
    <editor>Birgit Geppert and Charles Krueger and Jenny Li</editor>
    <address>Boston&#44; MA</address>

    <title>A UML&#45;based Approach for Validating Product Lines</title>
    <booktitle>Proceedings of the International Workshop on Software Product Line Testing (SPLiT 2004)</booktitle>
    <pages>58&#x2013;65</pages>
    <year>2004</year>



    <month>August</month>




    <note>ST:Basiert auf UML&#45;Aktivit&#228;tsdiagrammen Entwicklung eines Tools auf Basis von Rational&#45;Rose. F&#252;r die Testdatengewinnung wird eine &#196;&#45;Klassenanalyse durchgef&#252;hrt. Wichtig sind daher die Bedingungen an der Verzweigungspunkten im Aktivit&#228;tsdiagramm&#44; da die Auswahl des Testfalls von diesen abh&#228;ngt. Nutzer w&#228;hlt Produkt aus und das Tool generiert f&#252;r ein produkt Testf&#228;lle Fazit: Es werden zwar Testf&#228;lle mit Testdaten f&#252;r die Produkte einer Produktlinie automatisch generiert&#44; aber es findet keine Trennung zwischen Domain&#45; und Application Engineering statt. Es ist kein Wiederverwendungsansatz erkennbar. Au&#223;erdem arbeitet das Tool auf Basis anderer kommerzieller Tools (Rose).&#10;MR: Die &#196;&#45;Klassenanalyse wird nach der Category&#45;Partition&#45;Methode durchgef&#252;hrt&#44; d.h. dass die die Testdaten (mit erwarteten Ausgaben) teilweise manuell erstellt werden m&#252;ssen.</note>





</inproceedings>
 



<techreport mdate="2001" key="McGregor2001">
       <author> John D. McGregor</author> 



    <title>Testing a Software Product Line</title>


    <year>2001</year>


    <number>CMU/SEI&#45;2001&#45;TR&#45;022</number>





    <note>MR: besch&#228;ftigt sich eher mit den organisatorischen Aspekten</note>





</techreport>
 



<inproceedings mdate="2006" key="Mishra2006">
       <author> Satish Mishra</author> 
    <editor>Roman Redziejowski Ludwik Czaja and Holger Schlingloff</editor>


    <title>Specification Based Software Product Line Testing: A Case Study</title>
    <booktitle> CS&#38;&#35;x0026;P 2006 &#45; Concurrency&#44; Specification and Programming</booktitle>

    <year>2006</year>




    <url>http://www2.informatik.hu&#45;berlin.de/&#126;hs/Aktivitaeten/2006&#95;CSP/</url>



    <note>MR: Es wird gezeigt&#44; dass bei SPLs&#44; die mit formalen Spezifikationen (hier CSP&#45;CASL) beschrieben sind&#44; die Testf&#228;lle&#44; Testeingaben und erwartete Ergebnisse automatisch generiert werden k&#246;nnen. Die Wiederverwendung der Tests beschr&#228;nkt sich im Paper auf SPLs von speziellen Art&#44; bei denen die Varianten nur erweitert werden k&#246;nnen und somit andere Varianten und den gemeinsamen Teil vollst&#228;ndig involvieren.</note>





</inproceedings>
 



<article mdate="2006" key="Pohl2006">
       <author> Klaus Pohl</author>
       <author> Andreas Metzger</author> 

    <address>New York&#44; NY&#44; USA</address>

    <title>Software product line testing</title>

    <pages>78&#x2013;81</pages>
    <year>2006</year>
    <journal>Commun. ACM</journal>
    <volume>49</volume>
    <number>12</number>

    <url>http://portal.acm.org/citation.cfm&#63;id=1183236.1183271&#38;&#35;x0026;coll=Portal&#38;&#35;x0026;dl=GUIDE&#38;&#35;x0026;CFID=76494643&#38;&#35;x0026;CFTOKEN=68898243</url>

    <publisher>ACM</publisher>







</article>
 



<inproceedings mdate="2007" key="Reis2007">
       <author> Sacha Reis</author>
       <author> Andreas Metzger</author>
       <author> Klaus Pohl</author> 



    <title>Integration Testing in Software Product Line Engineering: A Model&#45;Based Technique</title>
    <booktitle>FASE</booktitle>
    <pages>321-335</pages>
    <year>2007</year>










    <crossref>DBLP:conf/fase/2007</crossref>



</inproceedings>
 



<phdthesis mdate="2006" key="Reuys2006">
       <author> Andreas Reuys</author> 



    <title>Anforderungsbasierte Ableitung von Systemtestfall&#45;Szenarien in der Software&#45;Produktlinien&#45;Entwicklung</title>


    <year>2006</year>




    <url>http://www.amazon.de/gp/redirect.html&#37;3FASIN=383251435X&#37;26tag=ws&#37;26lcode=xm2&#37;26cID=2025&#37;26ccmID=165953&#37;26location=/o/ASIN/383251435X&#37;253FSubscriptionId=13CT5CVB80YFWJEPWS02</url>

    <publisher>Logos Berlin</publisher>




    <isbn>383251435X</isbn>


</phdthesis>
 



<misc mdate="2005" key="Stricker2005">
       <author> Vanessa Stricker</author> 



    <title>Anforderungen an ein Modell zur Selektion erneut auszuf&#252;hrender Applikationstetsartefakte</title>


    <year>2005</year>








    <note>Projektseminar; Lehrstuhl Software Systems Engineering; Professor Dr. Klaus Pohl; SS 2005</note>





</misc>
 



<article mdate="2004" key="Tevanlinna2004">
       <author> Antti Tevanlinna</author>
       <author> Juha Taina</author>
       <author> Raine Kauppinen</author> 

    <address>New York&#44; NY&#44; USA</address>

    <title>Product family testing: a survey</title>

    <pages>12&#x2013;12</pages>
    <year>2004</year>
    <journal>SIGSOFT Softw. Eng. Notes</journal>
    <volume>29</volume>
    <number>2</number>

    <url>http://portal.acm.org/citation.cfm&#63;id=979766</url>

    <publisher>ACM</publisher>

    <note>MR: ein guter &#220;berblick &#252;ber SPL&#45;Testing bis 2004</note>





</article>
 



<inproceedings mdate="2007" key="Uzuncaova2007">
       <author> Engin Uzuncaova</author>
       <author> Daniel Garcia</author>
       <author> Sarfraz Khurshid</author>
       <author> Don S. Batory</author> 
    <editor>Ivica Crnkovic and Antonia Bertolino</editor>
    <address>New York&#44; NY&#44; USA</address>

    <title>A specification&#45;based approach to testing software product lines</title>
    <booktitle>ESEC&#45;FSE &#39;07: Proceedings of the the 6th joint meeting of the European software engineering conference and the ACM SIGSOFT symposium on The foundations of software engineering</booktitle>
    <pages>525&#x2013;528</pages>
    <year>2007</year>




    <url>http://doi.acm.org/10.1145/1287624.1287701</url>

    <publisher>ACM</publisher>

    <note>ST: Die Spezifikation der Produktlinie liegt in einer formalen Beschreibung vor (LTL) Es wird ein Modelchecking&#45;Verfahren durchgefuehrt um zu beweisen&#44; dass die Spezifikation gilt. Fazit: Keine explizite Ableitung von Testdaten&#44; die Spezifikation muss formal vorliegen.&#10;MR: Anhand von formalen Alloy&#45;Spezifikationen von Invarianten und Constraints kann der Alloy Analyzer (SAT solver) automatisch alle passenden Testdaten generieren. Nachteile: Die erwarteten Ergebnisse werden nicht betrachtet (oder&#63;). Die Spezifikation wird als Annotationen in den Code eingebracht (hier als moderner Ansatz angesehen &#228;hnlich JML). An der Wiederverwendung wird erst gearbeitet.&#10;</note>


    <isbn>978&#45;1&#45;59593&#45;811&#45;4</isbn>


</inproceedings>
 



</dblp>
