Artikel in einem Konferenzbericht,

Modeling of Current Conduction during RESET Phase of Pt/Ta2O5/TaOx/Pt Bipolar Resistive RAM Devices.

, , und .
NVMSA, Seite 55-60. IEEE, (2018)

Metadaten

Tags

Nutzer

  • @dblp

Kommentare und Rezensionen