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An efficient test-data compaction for low power VLSI testing., , , und . EIT, Seite 237-241. IEEE, (2008)The AB-filling methodology for power-aware at-speed scan testing., , , , und . ITC, Seite 807. IEEE Computer Society, (2010)Test slice difference technique for low power encoding., , , und . HLDVT, Seite 25-32. IEEE Computer Society, (2008)New Scheme of Reducing Shift and Capture Power Using the X-Filling Methodology., , , und . Asian Test Symposium, Seite 105-110. IEEE Computer Society, (2009)