Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Characterization of time-dependent variability using 32k transistor arrays in an advanced HK/MG technology., , , , , , , , , und . IRPS, Seite 3. IEEE, (2015)The properties, effect and extraction of localized defect profiles from degraded FET characteristics., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IRPS, Seite 1-7. IEEE, (2021)A BSIM-Based Predictive Hot-Carrier Aging Compact Model., , , , , , , , , und . IRPS, Seite 1-9. IEEE, (2021)A Physically Unclonable Function with 0% BER Using Soft Oxide Breakdown in 40nm CMOS., , , , , und . A-SSCC, Seite 157-160. IEEE, (2018)Investigating Nanowire, Nanosheet and Forksheet FET Hot-Carrier Reliability via TCAD Simulations: Invited Paper., , , , , , , , und . IRPS, Seite 1-10. IEEE, (2023)Improving the Tamper-Aware Odometer Concept by Enhancing Dynamic Stress Operation., , , , , und . IRPS, Seite 1-9. IEEE, (2023)Temperature Dependent Mismatch and Variability in a Cryo-CMOS Array with 30k Transistors., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IRPS, Seite 10. IEEE, (2022)Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs., , , , , , , , , und . IRPS, Seite 6. IEEE, (2022)The defect-centric perspective of device and circuit reliability - From individual defects to circuits., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). ESSDERC, Seite 218-225. IEEE, (2015)Demonstration of Chip Overclock Detection by Employing Tamper-Aware Odometer Technology., , , , , und . IRPS, Seite 4. IEEE, (2024)