From post

копировать удалить добавить публикацию в буфер
Запись сообщества
посмотреть историю данной записи
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Methodology of Generating Timing-Slack-Based Cell-Aware Tests.

Y. Nien, K. Wu, D. Lee, Y. Chen, P. Chen, M. Chern, J. Lee, S. Kao, и M. Chao. ITC, стр. 1-10. IEEE, (2019)

Please choose a person to relate this publication to

To differ between persons with the same name, the academic degree and the title of an important publication will be displayed.

Wolfgang Nungässer

Thilo Nungesser

Wilhelm Nungesser

Ernesto Nungesser

Verena-Susanna Nungesser

Другие публикации лиц с тем же именем

Predicting Vt variation and static IR drop of ring oscillators using model-fitting techniques.T. Huang, W. Hung, H. Yang, W. Chang, Y. Chen, C. Kuo, J. Lee, и M. Chao. ASP-DAC, стр. 426-431. IEEE, (2017)Methodology of Generating Timing-Slack-Based Cell-Aware Tests.Y. Nien, K. Wu, D. Lee, Y. Chen, P. Chen, M. Chern, J. Lee, S. Kao, и M. Chao. ITC, стр. 1-10. IEEE, (2019)Methodology of generating dual-cell-aware tests.Y. Huang, C. Lu, T. Wu, Y. Nien, Y. Chen, M. Wu, J. Lee, и M. Chao. VTS, стр. 1-6. IEEE Computer Society, (2017)Methodology of Generating Timing-Slack-Based Cell-Aware Tests.Y. Nien, K. Wu, D. Lee, Y. Chen, P. Chen, M. Chern, J. Lee, S. Kao, и M. Chao. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 41 (11): 5057-5070 (2022)Identifying Good-Dice-in-Bad-Neighborhoods Using Artificial Neural Networks.C. Yang, C. Yen, T. Wang, C. Chen, M. Chern, Y. Chen, J. Lee, S. Kao, K. Wu, и M. Chao. VTS, стр. 1-7. IEEE, (2021)Fault Pattern Oriented Defect Diagnosis for Memories.C. Wang, K. Cheng, J. Lee, Y. Chou, C. Huang, C. Wu, F. Huang, и H. Yang. ITC, стр. 29-38. IEEE Computer Society, (2003)FAME: A Fault-Pattern Based Memory Failure Analysis Framework.K. Cheng, C. Wang, J. Lee, Y. Chou, C. Huang, и C. Wu. ICCAD, стр. 595-598. IEEE Computer Society / ACM, (2003)CNN-based Stochastic Regression for IDDQ Outlier Identification.C. Chen, C. Yen, C. Wen, C. Yang, K. Wu, M. Chern, Y. Chen, C. Kuo, J. Lee, S. Kao и 1 other автор(ы). VTS, стр. 1-6. IEEE, (2020)Predicting Vt mean and variance from parallel Id measurement with model-fitting technique.C. Tsai, K. Lee, C. Lin, S. Yu, W. Liau, A. Hou, Y. Chen, C. Kuo, J. Lee, и M. Chao. VTS, стр. 1-6. IEEE Computer Society, (2016)Case study of yield learning through in-house flow of volume diagnosis.P. Hsueh, S. Kuo, C. Tzeng, J. Lee, и C. Wu. VLSI-DAT, стр. 1-4. IEEE, (2013)

BibSonomy

Disambiguation

Please choose a person to relate this publication to

Wolfgang Nungässer

Thilo Nungesser

Wilhelm Nungesser

Ernesto Nungesser

Verena-Susanna Nungesser

Другие публикации лиц с тем же именем

Disambiguation

BibSonomy

Disambiguation

копироватьудалитьдобавить публикацию в буферЗапись сообществапосмотреть историю данной записиURLDOIBibTeXEndNoteAPAChicagoDIN 1505HarvardMSOffice XML Methodology of Generating Timing-Slack-Based Cell-Aware Tests.

Please choose a person to relate this publication to

Wolfgang Nungässer

Thilo Nungesser

Wilhelm Nungesser

Ernesto Nungesser

Verena-Susanna Nungesser

Другие публикации лиц с тем же именем

Disambiguation