Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Exploiting path delay test generation to develop better TDF tests for small delay defects., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2017)Estimating Operational Age of an Integrated Circuit., , , und . J. Electron. Test., 37 (1): 25-40 (2021)A Modular Fault-Tolerant Binary Tree Architecture with Short Links., und . IEEE Trans. Computers, 40 (7): 882-890 (1991)Test application time minimization for RAS using basis optimization of column decoder., , , , und . ISCAS, Seite 2614-2617. IEEE, (2010)Special session: Hot topics: Statistical test methods., , , , , und . VTS, Seite 1-2. IEEE Computer Society, (2015)Aging-Resilient SRAM-based True Random Number Generator for Lightweight Devices., , und . J. Electron. Test., 36 (3): 301-311 (2020)An IDDQ sensor for concurrent timing error detection., , und . IEEE J. Solid State Circuits, 33 (10): 1545-1550 (1998)Silent Data Errors: Sources, Detection, and Modeling., , , und . VTS, Seite 1-12. IEEE, (2023)Timing Variation Adaptive Pipeline Design: Using Probabilistic Activity Completion Sensing with Backup Error Resilience., , , , und . VLSID, Seite 122-127. IEEE Computer Society, (2014)An Efficient Transition Detector Exploiting Charge Sharing., und . VLSID, Seite 298-303. IEEE Computer Society, (2015)