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Disambiguierung von "Desineni, Rao"

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Extraction of defect density and size distributions from wafer sort test results.

, , , , , , und . DATE, Seite 913-918. European Design and Automation Association, Leuven, Belgium, (2006)

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Boloor Ramananda Rao

Bharathi Vasudeva Rao

Yadlapalli Venkateswara Rao

Balakrishna Rao

Sonti Venkata Suryanarayana Rao

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Defect Modeling Using Fault Tuples., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 25 (11): 2450-2464 (2006)Hard to find, easy to find systematics; just find them., , , und . ITC, Seite 388-397. IEEE Computer Society, (2010)Fault Tuples in Diagnosis of Deep-Submicron Circuits., , , , , und . ITC, Seite 233-241. IEEE Computer Society, (2002)Universal test generation using fault tuples., , und . ITC, Seite 812-819. IEEE Computer Society, (2000)Benchmarking Diagnosis Algorithms With a Diverse Set of IC Deformations., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). ITC, Seite 508-517. IEEE Computer Society, (2004)Pylon: Towards an integrated customizable volume diagnosis infrastructure., , , , , , und . ITC, Seite 1-9. IEEE, (2016)Multiple-detect ATPG based on physical neighborhoods., , , und . DAC, Seite 1099-1102. ACM, (2006)A Logic Diagnosis Methodology for Improved Localization and Extraction of Accurate Defect Behavior., , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)Extraction of defect density and size distributions from wafer sort test results., , , , , , und . DATE, Seite 913-918. European Design and Automation Association, Leuven, Belgium, (2006)Diagnosis of Arbitrary Defects Using Neighborhood Function Extraction., und . VTS, Seite 366-373. IEEE Computer Society, (2005)