( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Etxeberria, Leire"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Automatic generation of test system instances for configurable cyber-physical systems.

, , , und . Softw. Qual. J., 25 (3): 1041-1083 (2017)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Wolfgang Leirer

Rolf Leirer

Rolf Leirer

Rolf Leirer

Rolf Leirer

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Spectrum-based fault localization in software product lines., , , , und . Inf. Softw. Technol., (2018)Search-Based test case prioritization for simulation-Based testing of cyber-Physical system product lines., , , und . J. Syst. Softw., (2019)Automatic generation of test system instances for configurable cyber-physical systems., , , und . Softw. Qual. J., 25 (3): 1041-1083 (2017)Dynamic test prioritization of product lines: An application on configurable simulation models., , , und . Softw. Qual. J., 29 (4): 943-988 (2021)Multidimensional Framework for Characterizing Verification and Validation of Automated Systems., , , , , , , , , und . EDCC, Seite 41-48. IEEE, (2022)MARTE Mechanisms to Model Variability When Analyzing Embedded Software Product Lines., , und . SPLC, Volume 6287 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 466-470. Springer, (2010)Search-based product line fault detection allocating test cases iteratively., , , und . SPLC (A), Seite 123-132. ACM, (2017)White-box and black-box test quality metrics for configurable simulation models., , , und . SPLC (B), Seite 92:1-92:4. ACM, (2019)Modelling Variation in Quality Attributes., , und . VaMoS, Volume 2007-01 von Lero Technical Report, Seite 51-59. (2007)Employing Multi-Objective Search to Enhance Reactive Test Case Generation and Prioritization for Testing Industrial Cyber-Physical Systems., , , , und . IEEE Trans. Ind. Informatics, 14 (3): 1055-1066 (2018)