Autor der Publikation

Oshidori-Net: Connecting Regional EPR Systems to Achieve Secure Mutual Reference with Thin-Client Computing Technology.

, , , , , , , und . E-HEALTH, Volume 335 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 82-89. Springer, (2010)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fit data selection for software effort estimation models., , und . ESEM, Seite 360-361. ACM, (2008)Using Bandit Algorithms for Project Selection in Cross-Project Defect Prediction., , , , , , , und . ICSME, Seite 649-653. IEEE, (2021)A Simulation Study of Bandit Algorithms to Address External Validity of Software Fault Prediction., , , , und . CoRR, (2020)Oshidori-Net: Connecting Regional EPR Systems to Achieve Secure Mutual Reference with Thin-Client Computing Technology., , , , , , , und . E-HEALTH, Volume 335 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 82-89. Springer, (2010)Capturing Spotaneous Software Evolution in a Social Coding Platform With Project-as-a-City Concept., , , und . Int. J. Softw. Innov., 8 (3): 35-50 (2020)Evaluation of Software Fault Prediction Models Considering Faultless Cases., , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 103-D (6): 1319-1327 (2020)A Quantitative Comparison of Coverage-Based Greybox Fuzzers., , , , , und . AST@ICSE, Seite 89-92. ACM, (2020)A Novel Approach to Address External Validity Issues in Fault Prediction Using Bandit Algorithms., , , , , , , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 104-D (2): 327-331 (2021)Software Defect Prediction by Online Learning Considering Defect Overlooking., , , , , , , und . ISSREW, Seite 43-44. IEEE, (2023)Preliminary Analysis of Review Method Selection Based on Bandit Algorithms., , , , , , , und . APSEC, Seite 492-496. IEEE, (2022)