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"Depth-profiling" and quantitative characterization of the size, composition, shape, density, and morphology of fine particles with SPLAT, a single-particle mass spectrometer

, , , , und . Journal of Physical Chemistry A, 112 (4): 669--677 (Januar 2008)254WM Times Cited:4 Cited References Count:12.
DOI: Doi 10.1021/Jp077308y

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