( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Abadir, Magdy S."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Diagnosing multiple transition faults in the absence of timing information.

, , , und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 193-196. ACM, (2005)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Tarek Magdy

Magdy Shallan

Magdy Mahdy

Magdy Kaml

Magdy Imam

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Verification and Validation of Complex Digital Systems: An Industrial Perspective., und . ISQED, Seite 11-12. IEEE Computer Society, (2001)Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams., und . IEEE Trans. Computers, 35 (4): 375-379 (1986)Functional Testing of Semiconductor Random Access Memories., und . ACM Comput. Surv., 15 (3): 175-198 (1983)Design rewiring based on diagnosis techniques., , und . ASP-DAC, Seite 479-484. ACM, (2001)Efficient Algorithmic Circuit Verification Using Indexed BDDs., , , , und . FTCS, Seite 266-275. IEEE Computer Society, (1994)Guest Editors' Introduction: Emerging Challenges and Solutions in SoC Verification., , , und . IEEE Des. Test, 34 (5): 5-6 (2017)Test Generation Based on High-Level Assertion Specification for PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays., und . J. Electron. Test., 13 (2): 121-135 (1998)Oscillation Ring Delay Test for High Performance Microprocessors., , , , und . J. Electron. Test., 16 (1-2): 147-155 (2000)A quick and inexpensive method to identify false critical paths using ATPG techniques: an experiment with a PowerPCTM microprocessor., , und . CICC, Seite 71-74. IEEE, (2000)Design Optimization Based on Diagnosis Techniques., , und . LATW, Seite 244-249. IEEE, (2000)