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Disambiguierung von "Higami, Yoshinobu"

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Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST.

, , , , , , und . ATS, Seite 155-160. IEEE, (2018)

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Yoshinobu Kumazawa

 

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Test cost reduction for logic circuits: Reduction of test data volume and test application time., , , und . Syst. Comput. Jpn., 36 (6): 69-83 (2005)On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models using pass/fail information., , , , und . ISCAS (3), Seite 2987-2990. IEEE, (2005)On selection of adjacent lines in test pattern generation for delay faults considering crosstalk effects., , , , und . ISCIT, Seite 1-5. IEEE, (2017)Compaction of pass/fail-based diagnostic test vectors for combinational and sequential circuits., , , , und . ASP-DAC, Seite 659-664. IEEE, (2006)Maximizing Stuck-Open Fault Coverage Using Stuck-at Test Vectors., , , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 91-A (12): 3506-3513 (2008)Formulation of a Test Pattern Measure That Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis., und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 103-A (12): 1456-1463 (2020)Discrimination of a Resistive Open Using Anomaly Detection of Delay Variation Induced by Transitions on Adjacent Lines., , , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 100-A (12): 2842-2850 (2017)Partially Parallel Scan Chain for Test Length Reduction by Using Retiming Technique., , und . Asian Test Symposium, Seite 94-99. IEEE Computer Society, (1996)Comparative Evaluation of Bluetooth and Wi-Fi Direct for Tablet-Oriented Educational Applications., , , , und . ACIIDS (1), Volume 10191 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 345-354. (2017)Simulation-Based Diagnosis for Crosstalk Faults in Sequential Circuits., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 63-. IEEE Computer Society, (2001)