( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Suzuki, Tatsuya"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Effect of mechanical stress induced by etch-stop nitride: impact on deep-submicron transistor performance.

, , , , , , , , und . Microelectron. Reliab., 42 (2): 201-209 (2002)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Yoko Suzuki

Tatsuya Nakada

Tatsuya Hagino

Tatsuya Ōta

Tatsuya Banno

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Human Skill Modeling based on stochastic switched dynamics., , und . ADHS, Volume 39 von IFAC Proceedings Volumes, Seite 64-70. Elsevier, (2006)Simultaneous Realization of Planning and Control for Lane-change Behavior Using Nonlinear Model Predictive Control., , , , und . ITSC, Seite 2406-2411. IEEE, (2018)Multi-scale driving behavior modeling using hierarchical PWARX model., , , , und . ITSC, Seite 1638-1644. IEEE, (2010)Modelling and Realization of the Peg-in-Hole Task Based on Hidden Markov Model., , , , und . ICRA, Seite 1142-1147. IEEE Computer Society, (1998)Simultaneous optimization of timing and trajectory in sequential and parallel tasks of humanoid robots., , und . Humanoids, Seite 596-601. IEEE, (2011)Modeling and analysis of acceptability for merging vehicle at highway junction., , , , und . ITSC, Seite 1004-1009. IEEE, (2016)Behavior Modeling in Man-machine Cooperative System based on Stochastic Switched Dynamics., , , , , und . ICRA, Seite 3618-3623. IEEE, (2006)Fault Detection and Diagnosis of Manipulator Based on Probabilistic Production Rule., , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 90-A (11): 2488-2495 (2007)Identification of Positioning Skill Based on Feedforward/Feedback Switched Dynamical Model., , , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 92-A (11): 2755-2762 (2009)Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing., , , , , , und . J. Electron. Test., 24 (4): 379-391 (2008)