( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Schwarz, Mike"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Machine Learning Approach for Multi Particle Tracking in Complex Plasmas.

, , , und . MIXDES, Seite 232-237. IEEE, (2023)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Bernd Miketta

Anna Mikecz

Helmut Mikelskis

Heinz Miketta

Anna Mikecz

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Analysis and 2D analytical modeling of III-V Schottky barrier Double-Gate MOSFETs., und . MIXDES, Seite 310-315. IEEE, (2016)Process and Device Simulation of Schottky Barrier MOSFETs for Analysis of Current Injection., , , , , und . MIXDES, Seite 67-72. IEEE, (2018)The Need of Simulation Methodologies for Active Semiconductor Devices in MEMS : Invited Paper.. MIXDES, Seite 65-70. IEEE, (2019)Machine Learning Approach for Particle Matching, Tracing and Velocimetry with Self-Organizing Map: Application to Complex Plasmas., , , , und . ICMLA, Seite 839-844. IEEE, (2023)Comparison between WKB and Wavelet Approach for Analytical Calculation of Tunneling Currents in Schottky Barrier Field-Effect Transistors., , , , und . MIXDES, Seite 31-36. IEEE, (2023)Simulation and Modeling of Silicon Semiconductor Devices and Sensors., , , , und . MIXDES, Seite 42-46. IEEE, (2023)AI Algorithms for Plasma Particle Tracking., , , , , und . MIXDES, Seite 31-36. IEEE, (2024)Compact Modeling of Channel-Resistance Effects in Reconfigurable Field-Effect Transistors., , , , , , , , , und . MIXDES, Seite 33-39. IEEE, (2022)Machine Learning Approach for Multi Particle Tracking in Complex Plasmas., , , und . MIXDES, Seite 232-237. IEEE, (2023)The future is MEMS design considerations of microelectromechanical systems at Bosch., , und . MIXDES, Seite 177-180. IEEE, (2015)