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Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Efficient multisine testing of analog circuits., , , und . VLSI Design, Seite 234-238. IEEE Computer Society, (1995)MIXER: Mixed-Signal Fault Simulator., , und . ICCD, Seite 568-571. IEEE Computer Society, (1993)Low-cost and efficient digital-compatible BIST for analog circuits using pulse response sampling., , und . VTS, Seite 261-266. IEEE Computer Society, (1997)Low-cost DC built-in self-test of linear analog circuits using checksums., , und . VLSI Design, Seite 230-233. IEEE Computer Society, (1996)Design for Testability and Built-In Self-Test of Mixed-Signal Circuits: A Tutorial., und . VLSI Design, Seite 388-392. IEEE Computer Society, (1997)Hierarchical fault modeling for analog and mixed-signal circuits., und . VTS, Seite 96-101. IEEE Computer Society, (1992)Hierarchical Statistical Inference Model for Specification Based Testing of Analog Circuits., , , und . VTS, Seite 145-151. IEEE Computer Society, (1998)Test Metrics for Analog Parametric Faults., und . VTS, Seite 226-235. IEEE Computer Society, (1999)Fault-based automatic test generator for linear analog circuits., , , und . ICCAD, Seite 88-91. IEEE Computer Society / ACM, (1993)DRAFTS: Discretized Analog Circuit Fault Simulator., , und . DAC, Seite 509-514. ACM Press, (1993)