( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Gupta, Sandeep K."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Zero aliasing compression.

, , und . FTCS, Seite 254-263. IEEE Computer Society, (1990)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Sandeep Gupta

Varun K Gupta

Sandeep Sadanandan

Sandeep Nambiar

Sandeep Kumar

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A 1-GS/s 11-bit ADC With 55-dB SNDR, 250-mW Power Realized by a High Bandwidth Scalable Time-Interleaved Architecture., , und . IEEE J. Solid State Circuits, 41 (12): 2650-2657 (2006)Test Generation for Weak Resistive Bridges., , und . ATS, Seite 265-272. IEEE, (2006)Introducing Redundant Computations in a Behavior for Reducing BIST Resources., , und . DAC, Seite 548-553. ACM Press, (1998)Test Generation for Maximizing Ground Bounce for Internal Circuitry with Reconvergent Fan-out., , und . VTS, Seite 358-367. IEEE Computer Society, (2001)Test generation in VLSI circuits for crosstalk noise., , und . ITC, Seite 641-650. IEEE Computer Society, (1998)Analytic Models for Crosstalk Delay and Pulse Analysis Under Non-Ideal Inputs., , und . ITC, Seite 809-818. IEEE Computer Society, (1997)LT-RTPG: a new test-per-scan BIST TPG for low heat dissipation., und . ITC, Seite 85-94. IEEE Computer Society, (1999)Test generation for crosstalk-induced delay in integrated circuits., , und . ITC, Seite 191-200. IEEE Computer Society, (1999)Extending pre-silicon delay models for post-silicon tasks: Validation, diagnosis, delay testing, and speed binning., und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Process variation oriented delay testing of SRAMs., und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2016)