Als Praxisanteil am Seminar Mustererkennung mit Support-Vektor-Maschinen (SVM) im WS 01/02 und WS 02/03 sind einige Wettbewerbe entstanden, die nicht nur auf diese Veranstaltung begrenzt sind. Es werden jederzeit Lösungen auch von nicht-Seminarteilnehmern angenommen. Die besten Resultate werden auf dieser Seite aktuell gehalten.
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J1054/270 ISSN: 1556-4681
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Volume 1 , Issue 1 (March 2007)
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The ACM Transactions on Knowledge Discovery from Data (TKDD)