,

Transparent DFT: a design for testability and test generation approach for synchronous sequential circuits.

, и .
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 25 (6): 1170-1175 (2006)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии