Artikel,

Automated Scan Chain Division for Reducing Shift and Capture Power During Broadside At-Speed Test.

, und .
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 27 (11): 2092-2097 (2008)

Metadaten

Tags

Nutzer

  • @dblp

Kommentare und Rezensionen