,

Partially Invariant Patterns for LFSR-Based Generation of Close-to-Functional Broadside Tests.

.
ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 23 (4): 53:1-53:18 (2018)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии