,

A new paradigm for trading off yield, area and performance to enhance performance per wafer.

, , и .
DATE, стр. 1753-1758. EDA Consortium San Jose, CA, USA / ACM DL, (2013)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии