Eine neue Jugend wächst heran - die «Digital Natives». Diese Webgeneration schickt sich an, unser Leben umzukrempeln. Was sie anders macht und wieso viele sie nicht verstehen.
C. Ullrich, T. Lu, and E. Melis. Learning in the Synergy of Multiple Disciplines, Proceedings of the EC-TEL 2009, volume 5794 of Lecture Notes in Computer Science, Berlin/Heidelberg, Springer, (October 2009)
E. Uzuncaova, D. Garcia, S. Khurshid, and D. Batory. ESEC-FSE '07: Proceedings of the the 6th joint meeting of the European software engineering conference and the ACM SIGSOFT symposium on The foundations of software engineering, page 525--528. New York, NY, USA, ACM, (2007)ST: Die Spezifikation der Produktlinie liegt in einer formalen Beschreibung vor (LTL)
Es wird ein Modelchecking-Verfahren durchgefuehrt um zu beweisen, dass die Spezifikation gilt.
Fazit: Keine explizite Ableitung von Testdaten, die Spezifikation muss formal vorliegen.
MR: Anhand von formalen Alloy-Spezifikationen von Invarianten und Constraints kann der Alloy Analyzer (SAT solver) automatisch alle passenden Testdaten generieren.
Nachteile: Die erwarteten Ergebnisse werden nicht betrachtet (oder?). Die Spezifikation wird als Annotationen in den Code eingebracht (hier als moderner Ansatz angesehen ähnlich JML). An der Wiederverwendung wird erst gearbeitet..
S. Luke, and L. Panait. Proceedings of the Genetic and Evolutionary
Computation Conference (GECCO-2001), page 81--88. San Francisco, California, USA, Morgan Kaufmann, (7-11 July 2001)
J. Edvardsson. (1999)ST: In diesem Paper wird ein Überblick gegeben wie Testdaten automatisch generiert werden können. An einem Beispiel wird die Vorgehensweise erläutert, wie Testdaten autoamtisch abgeleitet werden können; es eignet sich gut um die Grundlagen zu verstehen. Es werden weiterhin unterschiede zwischen zielorientierter, zufälliger, und pfadorientierter Testdatenableitung aufgezeigt..
S. Trewin, G. Zimmermann, and G. Vanderheiden. CUU '03: Proceedings of the 2003 Conference on Universal Usability, Vancouver, Canada, page 77-84. (2003)
S. Bongartz, Y. Jin, F. Paternò, J. Rett, C. Santoro, and L. Spano. Ambient Intelligence: Third International Joint Conference, AmI 2012, Pisa, Italy, volume 7683 of Lecture Notes in Computer Science, Springer, Heidelberg, (2012)