,

Delay fault coverage, test set size, and performance trade-offs.

, , , и .
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 14 (1): 32-44 (1995)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии