,

"Pinch to Detect": A Method to Increase the Number of Detectable RTN Traps in Nano-scale MOSFETs.

, , и .
IRPS, стр. 1-5. IEEE, (2021)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии