( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Pomeranz, Irith"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Properties of Maximally Dominating Faults.

, und . Asian Test Symposium, Seite 106-111. IEEE Computer Society, (2004)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Irith Baumann

Irith Wiegand

Irith Bittmann

Alexander Pomeranz

Irith Bittmann

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Functional Broadside Tests with Minimum and Maximum Switching Activity., und . J. Low Power Electron., 4 (3): 429-437 (2008)Multicycle Tests With Fault Detection Test Data for Improved Logic Diagnosis.. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 41 (5): 1587-1591 (2022)Maximal Independent Fault Set for Gate-Exhaustive Faults.. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 40 (3): 598-602 (2021)Storage-Based Logic Built-in Self-Test With Multicycle Tests.. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 41 (10): 3553-3557 (2022)Vector-restoration-based static compaction using random initial omission., und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 23 (11): 1587-1592 (2004)Pass/Fail Data for Logic Diagnosis Under Bounded Transparent Scan.. IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 41 (11): 4862-4872 (2022)Two-Dimensional Test Generation Objective.. ATS, Seite 108-113. IEEE, (2022)Usable Circuits with Imperfect Scan Logic.. ATS, Seite 156-161. IEEE, (2022)A Functional Fault Model with Implicit Fault Effect Propagation Requirements., , und . ATS, Seite 95-102. IEEE, (2006)To Overtest Or Not To Overtest - More Questions Than Answers.. ATS, Seite 125. IEEE, (2006)