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Information-theoretic and statistical methods of failure log selection for improved diagnosis., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2015)A Novel SMT-Based Technique for LFSR Reseeding., , , und . VLSI Design, Seite 394-399. IEEE Computer Society, (2012)Hardware-in-the-loop model-less diagnostic test generation., , und . HLDVT, Seite 128-135. IEEE, (2016)Online Scan Diagnosis : A Novel Approach to Volume Diagnosis., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2018)A Test Generation Framework for Quantum Cellular Automata Circuits., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 15 (1): 24-36 (2007)A SMT-based diagnostic test generation method for combinational circuits., , , und . VTS, Seite 215-220. IEEE Computer Society, (2012)Tackling the Path Explosion Problem in Symbolic Execution-Driven Test Generation for Programs., , und . Asian Test Symposium, Seite 59-64. IEEE Computer Society, (2010)A Test Pattern Quality Metric for Diagnosis of Multiple Stuck-at and Transition faults., , und . ACM Great Lakes Symposium on VLSI, Seite 455-458. ACM, (2017)Satisfiability-based test generation for nonseparable RTL controller-datapath circuits., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 25 (3): 544-557 (2006)Test generation for combinational quantum cellular automata (QCA) circuits., , und . DATE, Seite 311-316. European Design and Automation Association, Leuven, Belgium, (2006)