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Test reordering for improved scan chain diagnosis using an enhanced defect diagnosis procedure., , , und . ITC, Seite 1-9. IEEE, (2017)Defect diagnosis based on DFM guidelines., , , und . VTS, Seite 206-211. IEEE Computer Society, (2010)An Experimental Study of N-Detect Scan ATPG Patterns on a Processor., , , , , und . VTS, Seite 23-30. IEEE Computer Society, (2004)Theorems for Efficient Identification of Indistinguishable Fault Pairs in Synchronous Sequential Circuits., , und . VTS, Seite 181-186. IEEE Computer Society, (2002)Using Scan-Dump Values to Improve Functional-Diagnosis Methodology., , , , , und . VTS, Seite 231-238. IEEE Computer Society, (2007)Innovative practices session 5C: Advancements in test -keeping moore moving!. VTS, Seite 1. IEEE Computer Society, (2015)A Joint Diagnostic Test Generation Procedure with Dynamic Test Compaction., , und . ATS, Seite 138-143. IEEE Computer Society, (2016)Improving Precision Using Mixed-level Fault Diagnosis., , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)Defect Diagnosis Based on Pattern-Dependent Stuck-At Faults., , , und . VLSI Design, Seite 475-480. IEEE Computer Society, (2004)Testing for systematic defects based on DFM guidelines., , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2007)