( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Papakostas, Dimitris K."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Testing an Emergency Luminaire Circuit Using a Fault Dictionary Approach.

, , , , und . DDECS, Seite 251-254. IEEE Computer Society, (2008)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Ioannis Papakostas

Panagiotis Papakostas

Panagiotis Papakostas

Dimitrios Papakostas

Konstantinos Papakostas

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Fault Detection in Linear Bipolar ICs: Comparative Results Between Power Supply Current and Output Voltage Measurements., und . ISCAS, Seite 61-64. IEEE, (1994)Estimation of circuit output measurements including statistically dependent parameters., und . Int. J. Circuit Theory Appl., 31 (2): 219-228 (2003)A Unified Procedure for Fault Detection of Analog and Mixed-Mode Circuits Using Magnitude and Phase Components of the Power Supply Current Spectrum., und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 57 (11): 2589-2595 (2008)Power supply current testing in the production line of emergency luminaire circuits., , , , und . ICECS, Seite 778-781. IEEE, (2008)Design and development of a versatile testing system for analog and mixed-signal circuits., , , , und . ECCTD, Seite 846-849. IEEE, (2007)Circuit Implementation of a Supply Current Spectrum Test Method., , , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 59 (10): 2660-2670 (2010)Improved analogue fault coverage estimation using probabilistic analysis., und . Int. J. Circuit Theory Appl., 38 (5): 503-514 (2010)Modeling the impact of light on the performance of polycrystalline thin-film transistors at the sub-threshold region., , , , und . Microelectron. J., 37 (11): 1313-1320 (2006)Multiple Parametric Circuit Analysis Tool for Detectability Estimation., , , , und . ICECS, Seite 1111-1114. IEEE, (2007)Wavelet analysis of current measurements for mixed-signal circuit testing., , , und . ISCAS, Seite 1923-1926. IEEE, (2010)