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Effect-cause intra-cell diagnosis at transistor level., , , , , , und . ISQED, Seite 460-467. IEEE, (2013)Towards approximation during test of Integrated Circuits., , , , , und . DDECS, Seite 28-33. IEEE, (2017)Synthesis of Finite State Machines on Memristor Crossbars., , , , , und . DDECS, Seite 107-112. IEEE, (2018)Emerging Computing Devices: Challenges and Opportunities for Test and Reliability*., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). ETS, Seite 1-10. IEEE, (2021)Resilience-Performance Tradeoff Analysis of a Deep Neural Network Accelerator., , , , , und . DDECS, Seite 181-186. IEEE, (2023)AdequateDL: Approximating Deep Learning Accelerators., , , , , , und . DDECS, Seite 37-40. IEEE, (2021)Selective Hardening of Critical Neurons in Deep Neural Networks., , , , , und . DDECS, Seite 136-141. IEEE, (2022)Fast Bridging Fault Diagnosis using Logic Information., , , , , und . ATS, Seite 33-38. IEEE, (2007)A Logic Cell Design and routing Methodology Specific to VNWFET., , , , , , , und . NEWCAS, Seite 460-464. IEEE, (2022)Testing approximate digital circuits: Challenges and opportunities., , , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE, (2018)