Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

TRANSPARENT: a system for RTL testability analysis, DFT guidance and hierarchical test generation., , , und . CICC, Seite 159-162. IEEE, (1999)Transparency-based hierarchical test generation for modular RTL designs., , , und . ISCAS, Seite 689-692. IEEE, (2000)Exploiting Off-Line Hierarchical Test Paths in Module Diagnosis and On-Line Test., und . LATW, Seite 250-255. IEEE, (2000)Secure Logic Locking with Strain-Protected Nanomagnet Logic., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). DAC, Seite 127-132. IEEE, (2021)Hardware Dithering: A Run-Time Method for Trojan Neutralization in Wireless Cryptographic ICs., , , und . ITC, Seite 1-7. IEEE, (2018)Subtle Anomaly Detection of Microscopic Probes using Deep learning based Image Completion., , , , , und . ITC, Seite 1-3. IEEE, (2019)Integrated optimization of semiconductor manufacturing: A machine learning approach., und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)Spatial estimation of wafer measurement parameters using Gaussian process models., , , und . ITC, Seite 1-8. IEEE Computer Society, (2012)Bias Busters: Robustifying DL-based Lithographic Hotspot Detectors Against Backdooring Attacks., , , , , und . CoRR, (2020)Yield Forecasting Across Semiconductor Fabrication Plants and Design Generations., , , , , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 36 (12): 2120-2133 (2017)