,

Radiation Hardness by Design Techniques for 1 Grad TID Rad-Hard Systems in 65 nm Standard CMOS Technologies.

, , , и .
ApplePies, стр. 269-276. Springer, (2018)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии