,

Power Dissipation Associated to Internal Effect Transitions in Static CMOS Gates.

, , , , , и .
PATMOS, том 5349 из Lecture Notes in Computer Science, стр. 389-398. Springer, (2008)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии