,

High-mobility high-Ge-content Si1-xGex-OI PMOS FinFETs with fins formed using 3D germanium condensation with Ge fraction up to x∼ 0.7, scaled EOT∼8.5Å and ∼10nm fin width.

, , , , , , , , , и .
VLSIC, стр. 16-. IEEE, (2015)

Метаданные

тэги

Пользователи данного ресурса

  • @dblp

Комментарии и рецензии