Autor der Publikation

On-chip analog signal generation for mixed-signal built-in self-test.

, und . IEEE J. Solid State Circuits, 34 (3): 318-330 (1999)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Top-down design and synthesis of inherently-stable integrator-based high-order amplifiers., und . NEWCAS, Seite 1-4. IEEE, (2016)A 70-GHz Effective Sampling Rate On-Chip Oscilloscope with Time-Domain Digitization., und . CICC, Seite 61-64. IEEE, (2006)Test methods and ICs for high-speed serdes., und . CICC, IEEE, (2009)Testability and reliability enhancement techniques., und . CICC, Seite 1. IEEE, (2014)Guest Editors' Introduction: Speeding Up Analog Integration and Test for Mixed-Signal SoCs., , und . IEEE Des. Test, 32 (1): 6-8 (2015)Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time., und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 13 (7): 852-860 (2005)A log-polar image sensor fabricated in a standard 1.2-μm ASIC CMOS process., , und . IEEE J. Solid State Circuits, 32 (8): 1274-1277 (1997)A 1-V, 10-bit rail-to-rail successive approximation analog-to-digital converter in standard 0.18 um CMOS technology., , und . ISCAS (1), Seite 460-463. IEEE, (2001)All-digital Time-Mode elliptic filters based on the operational simulation of LC ladders., , und . ISCAS, Seite 2125-2128. IEEE, (2014)Towards Built-In-Self-Test for SNR Testing of a Mixed-Signal IC., und . ISCAS, Seite 1599-1602. IEEE, (1993)