( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Wang, Zhanglei"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
A low cost test data compression technique for high n-detection fault coverage.

, , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2007)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Wang Wang

Linfang Wang

Investigation of the functions of 53BP1 in DNA demethylation. Uni Marburg, (2009)

Paul Wang

Lien Wang

Scheifoo Wang

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Diagnostic system based on support-vector machines for board-level functional diagnosis., , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2012)Physical defect modeling for fault insertion in system reliability test., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2009)Test set enrichment using a probabilistic fault model and the theory of output deviations., , und . DATE, Seite 1270-1275. European Design and Automation Association, Leuven, Belgium, (2006)Test-Quality/Cost Optimization Using Output-Deviation-Based Reordering of Test Patterns., und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 27 (2): 352-365 (2008)A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction., , , , , , und . J. Electron. Test., 24 (4): 353-364 (2008)Board-level fault diagnosis using Bayesian inference., , , und . VTS, Seite 244-249. IEEE Computer Society, (2010)Physical-Defect Modeling and Optimization for Fault-Insertion Test., , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 20 (4): 723-736 (2012)A low cost test data compression technique for high n-detection fault coverage., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2007)Test data compression for IP embedded cores using selective encoding of scan slices., und . ITC, Seite 10. IEEE Computer Society, (2005)Built-in self-test of molecular electronics-based nanofabrics., und . ETS, Seite 168-173. IEEE Computer Society, (2005)