( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Bezerra, Eduardo Augusto"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Hyperspectral Image Classification: An Analysis Employing CNN, LSTM, Transformer, and Attention Mechanism.

, , , , , und . IEEE Access, (2023)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Márcia Bezerra

Eduardo Augusto Guedes Machado Santa Marta

Augusto Mangini

Augusto Lautz

Augusto Araújo

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

An efficient EDAC approach for handling multiple bit upsets in memory array., , , , und . Microelectron. Reliab., (2018)RNS processor using moduli sets of the form 2n±1., , , , und . Int. J. Circuit Theory Appl., 51 (7): 3432-3442 (Juli 2023)A continuous-time formulation for optimal task scheduling and quality-of-service assurance in nanosatellites., , , , , und . Comput. Oper. Res., (2022)Improving energy aware nanosatellite task scheduling by a branch-cut-and-price algorithm., , , , und . Comput. Oper. Res., (Oktober 2023)Automatic property generation for formal verification applied to HDL-based design of an on-board computer for space applications., , , und . LATW, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)A Reed-Solomon Algorithm for FPGA Area Optimization in Space Applications., , , , und . AHS, Seite 243-249. IEEE Computer Society, (2007)A Digital Implementation of Eddystone Standard Using IBM 180nm Cell Library., , , und . SBESC, Seite 161-166. IEEE Computer Society, (2017)An adaptive communications module for on-board computers of satellites., , und . AHS, Seite 317-324. IEEE Computer Society, (2010)Fault Tolerant Soft-Core Processor Architecture Based on Temporal Redundancy., , , , und . J. Electron. Test., 35 (1): 9-27 (2019)Improving Reconfigurable Systems Reliability by Combining Periodical Test and Redundancy Techniques: A Case Study., , und . J. Electron. Test., 17 (2): 163-174 (2001)