Autor der Publikation

Analyzing the effect of concurrent variability in the core cells and sense amplifiers on SRAM read access failures.

, , , , , , und . DTIS, Seite 39-44. IEEE, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Effect-cause intra-cell diagnosis at transistor level., , , , , , und . ISQED, Seite 460-467. IEEE, (2013)Evaluation of the temperature influence on SEU vulnerability of DICE and 6T-SRAM cells., , , und . DTIS, Seite 1-5. IEEE, (2018)Emulating the Effects of Radiation-Induced Soft-Errors for the Reliability Assessment of Neural Networks., , , , , , , und . IEEE Trans. Emerg. Top. Comput., 10 (4): 1867-1882 (2022)A Survey on Deep Learning Resilience Assessment Methodologies., , , , , und . Computer, 56 (2): 57-66 (Februar 2023)A calculation method to estimate single event upset cross section., , , , , und . Microelectron. Reliab., (2017)Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories., , , , , und . J. Electron. Test., 21 (5): 551-561 (2005)Characterization of a RISC-V System-on-Chip under Neutron Radiation., , , , , , und . DTIS, Seite 1-6. IEEE, (2021)A study of path delay variations in the presence of uncorrelated power and ground supply noise., , , , , und . DDECS, Seite 189-194. IEEE Computer Society, (2011)On using a SPICE-like TSTAC™ eFlash model for design and test., , , , , , , , und . DDECS, Seite 359-364. IEEE Computer Society, (2011)Optimized march test flow for detecting memory faults in SRAM devices under bit line coupling., , , , , , und . DDECS, Seite 353-358. IEEE Computer Society, (2011)