Autor der Publikation

AC Power Standard Using a Programmable Josephson Voltage Standard.

, , , , , , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 58 (4): 1041-1048 (2009)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Comparison of high-frequency AC-DC voltage transfer standards at NRC, VSL, PTB, and NIST., , , , , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 50 (2): 349-352 (2001)AC Power Standard Using a Programmable Josephson Voltage Standard., , , , , , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 58 (4): 1041-1048 (2009)Comparison of AC Power Referenced to Either PJVS or JAWS., , , , und . IEEE Trans. Instrum. Meas., (2021)A Programmable Capacitor for Inductance Measurements., und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 66 (6): 1572-1578 (2017)A Comparison Between the NIST PJVS-Based Power Standard and the NRC Current- Comparator-Based Power Standard., , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 64 (1): 14-18 (2015)Error and Transient Analysis of Stepwise-Approximated Sine Waves Generated by Programmable Josephson Voltage Standards., , , , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 57 (7): 1322-1329 (2008)Precision Differential Sampling Measurements of Low-Frequency Synthesized Sine Waves With an AC Programmable Josephson Voltage Standard., , , , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 58 (4): 809-815 (2009)Improved time-base for waveform parameter estimation., , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 50 (4): 981-985 (2001)Evaluation of a Capacitance Scaling System., , , und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 56 (6): 2160-2163 (2007)Low thermal error sampling comparator for accurate settling measurements., und . ISCAS (1), Seite 521-524. IEEE, (2004)