( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Nair, Sarath Mohanachandran"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Physics based modeling of bimodal electromigration failure distributions and variation analysis for VLSI interconnects.

, , , , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2020)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Chithra Kumaran Nair

Photodisintegration studies of astrophysically relevant p-nuclei. TU Dresden, (2009)

Ramya Nair

Banafsheh Nairizi

Jayan Nandanan Nair

Suraj Nair

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A Comprehensive Framework for Parametric Failure Modeling and Yield Analysis of STT-MRAM., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 27 (7): 1697-1710 (2019)Variation-aware Fault Modeling and Test Generation for STT-MRAM., , , , und . IOLTS, Seite 80-83. IEEE, (2019)Physics based modeling of bimodal electromigration failure distributions and variation analysis for VLSI interconnects., , , , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2020)Defect Characterization and Test Generation for Spintronic-based Compute-In-Memory., , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2020)Dynamic Faults based Hardware Trojan Design in STT-MRAM., , , und . DATE, Seite 933-938. IEEE, (2020)Special Session - Emerging Memristor Based Memory and CIM Architecture: Test, Repair and Yield Analysis., , , , , , , , und . VTS, Seite 1-10. IEEE, (2020)A Spintronics Memory PUF for Resilience Against Cloning Counterfeit., , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 27 (11): 2511-2522 (2019)Mitigating Read Failures in STT-MRAM., , und . VTS, Seite 1-6. IEEE, (2020)Variation Analysis, Fault Modeling and Yield Improvement of Emerging Spintronic Memories. Karlsruhe University, Germany, (2020)base-search.net (ftubkarlsruhe:oai:EVASTAR-Karlsruhe.de:1000119696).VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories., , , , und . DATE, Seite 1456-1461. IEEE, (2017)