( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Yagi, Hideki"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
High Linearity and Uniform Characteristics of InP-Based 8-CH Waveguide Avalanche Photodiode Array for 400 GbE.

, , , , , , , , , und . OFC, Seite 1-3. IEEE, (2020)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Hideki Teshima

Hideki Mine

Atsushi Yagi

Bületnt Yagimli

Hideki Nakamura

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

First- and Second-Order Coding Theorems for Mixed Memoryless Channels With General Mixture., , und . IEEE Trans. Inf. Theory, 62 (8): 4395-4412 (2016)Reliability Function and Strong Converse of Biometrical Identification Systems Based on List-Decoding., und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 100-A (5): 1262-1266 (2017)The Minimum Cost of Information Erasure for Stationary Memoryless Sources under Restriction on the Output Distribution., und . CISS, Seite 1-6. IEEE, (2020)Biometric Identification Systems With Both Chosen and Generated Secret Keys by Allowing Correlation., und . CoRR, (2022)Finding the capacity of a quantized binary-input DMC., und . ISIT, Seite 686-690. IEEE, (2012)Single-letter characterization of epsilon-capacity for mixed memoryless channels., und . ISIT, Seite 2874-2878. IEEE, (2014)Quantization of Binary-Input Discrete Memoryless Channels, with Applications to LDPC Decoding, und . CoRR, (2011)Upper Bounds on the Error Probability for the Ensemble of Linear Block Codes with Mismatched Decoding., , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 105-A (3): 363-371 (2022)Variable-Length Resolvability for General Sources and Channels., und . Entropy, 25 (10): 1466 (Oktober 2023)Error control codes for parallel channel with correlated errors., , und . ITW, Seite 421-425. IEEE, (2008)