( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "van Driel, W."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
The Arecibo Galaxy Environments survey IV: the NGC7448 region and the HI mass function

, , , , , , , , und . (2011)cite arxiv:1104.0507.

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Francien Th M van Driel

Adolf Driels

Juliane Driel

Godfried Driel

Tobias Drieling

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Quantified HI Morphology V: HI Disks in the Virgo Cluster, , , und . (2011)cite arxiv:1104.3305 Comment: 10 pages, 3 figures, accepted by MNRAS, appendixes not included.On the self-regulation of intense star-formation in galaxies at z=1-3, , , , , und . (2013)cite arxiv:1304.7734Comment: A&A in press; 15 figures.The LOFAR Two-metre Sky Survey - I. Survey Description and Preliminary Data Release, , , , , , , , , und 62 andere Autor(en). (2016)cite arxiv:1611.02700Comment: 23 pages, 15 figures, 3 tables, accepted for publication in A&A.The Arecibo Galaxy Environments survey IV: the NGC7448 region and the HI mass function, , , , , , , , und . (2011)cite arxiv:1104.0507.Measuring the through-plane elastic modulus of thin polymer films in situ., , , und . Microelectron. Reliab., 47 (12): 1983-1988 (2007)Prediction and verification of process induced warpage of electronic packages., , , , , , und . Microelectron. Reliab., 43 (5): 765-774 (2003)Reliability and diffusion-controlled through thickness oxidation of optical materials in LED-based products., , , , und . Microelectron. Reliab., (2017)Packaging influences on the reliability of MEMS resonators., , , , , und . Microelectron. Reliab., 48 (8-9): 1567-1571 (2008)A review on discoloration and high accelerated testing of optical materials in LED based-products., , , , und . Microelectron. Reliab., (2018)Reliability modelling for packages in flexible end-products., , , , , , und . Microelectron. Reliab., 46 (9-11): 1880-1885 (2006)