( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Heidmann, Nils"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Variability-aware gradual aging for generating reliability figures of a neural measurement system.

, , , und . MIXDES, Seite 380-385. IEEE, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Kurt Heidmann

Manfred Heidmann

Frank Heidmann

Maren Heidmann

Jürgen Heidmann

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Analog behavioral modeling for age-dependent degradation of complex analog circuits., , , , und . MIXDES, Seite 317-322. IEEE, (2014)Variability-aware gradual aging for generating reliability figures of a neural measurement system., , , und . MIXDES, Seite 380-385. IEEE, (2013)Analysis of aging effects - From transistor to system level., , , , und . Microelectron. Reliab., (2016)Approximate computing of two-variable numeric functions using multiplier-less gradients., , und . Microprocess. Microsystems, (2017)Architecture and FPGA-implementation of a high throughput K+-Best detector., , und . DATE, Seite 240-245. IEEE, (2011)Power efficient digital IC design for a medical application with high reliability requirements., , , , , , , , und . PATMOS, Seite 1-5. IEEE, (2014)Modified Partial Euclidean Distance for iterative tree-search MIMO detection., , und . PIMRC, Seite 1723-1727. IEEE, (2011)Reliability analysis for integrated circuit amplifiers used in neural measurement systems., , , und . DATE, Seite 713-716. EDA Consortium San Jose, CA, USA / ACM DL, (2013)Variability-aware aging modeling for reliability analysis of an analog neural measurement system., , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2015)An aging-aware transistor sizing tool regarding BTI and HCD degradation modes., , , , und . MIXDES, Seite 272-277. IEEE, (2015)