Autor der Publikation

A Silicon-Level Countermeasure Against Fault Sensitivity Analysis and Its Evaluation.

, , , , , , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 23 (8): 1429-1438 (2015)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna., , und . ASHES@CCS, Seite 93-102. ACM, (2023)12.4 A 1mm-pitch 80×80-channel 322Hz-frame-rate touch sensor with two-step dual-mode capacitance scan., , , , , , , , und . ISSCC, Seite 216-217. IEEE, (2014)A DPA/DEMA/LEMA-resistant AES cryptographic processor with supply-current equalizer and micro EM probe sensor., , , , , und . ASP-DAC, Seite 26-27. IEEE, (2015)Side-channel leakage on silicon substrate of CMOS cryptographic chip., , , , , , , und . HOST, Seite 32-37. IEEE Computer Society, (2014)On-Chip Monitoring for In-Place Diagnosis of Undesired Power Domain Problems in IC Chips., , und . ATS, Seite 258-262. IEEE Computer Society, (2014)How to design hardware prime field multipliers for bilinear pairing., , und . ISOCC, Seite 203-204. IEEE, (2016)A Silicon-Level Countermeasure Against Fault Sensitivity Analysis and Its Evaluation., , , , , , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 23 (8): 1429-1438 (2015)A 6-bit arbitrary digital noise emulator in 65nm CMOS technology., , , , , , und . CICC, Seite 187-190. IEEE, (2009)Design Methodology and Validity Verification for a Reactive Countermeasure Against EM Attacks., , , , , und . J. Cryptol., 30 (2): 373-391 (2017)Fundamental Study on the Effects of Connector Torque Value on the Change of Inductance at the Contact Boundary., , und . IEICE Trans. Electron., 102-C (9): 636-640 (2019)