Autor der Publikation

Envelope Detection Based Transition Time Supervision for Online Testing of RF MEMS Switches.

, , , und . IOLTS, Seite 237-243. IEEE Computer Society, (2007)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Evaluation of Analog/RF Test Measurements at the Design Stage., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 28 (4): 582-590 (2009)Estimation of Analog/RF Parametric Test Metrics Based on a Multivariate Extreme Value Model., , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 39 (5): 966-976 (2020)On-Chip Pseudorandom MEMS Testing., , , und . J. Electron. Test., 21 (3): 233-241 (2005)Multivariate statistical techniques for analog parametric test metrics estimation., , , , und . DTIS, Seite 6-11. IEEE, (2013)A Tool for Analog/RF BIST Evaluation Using Statistical Models of Circuit Parameters., , , und . ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst., 20 (2): 31:1-31:22 (2015)Using Signal Envelope Detection for Online and Offline RF MEMS Switch Testing., , , , , und . VLSI Design, (2008)Guest Editorial., , und . J. Electron. Test., 22 (4-6): 311 (2006)Practical Harmonic Cancellation Techniques for the On-Chip Implementation of Sinusoidal Signal Generators for Mixed-Signal BIST Applications., , und . J. Electron. Test., 34 (3): 263-279 (2018)Low-cost EVM built-in test of RF transceivers., , , und . IDT, Seite 51-54. IEEE, (2014)Minimizing Test Frequencies for Linear Analog Circuits: New Models and Efficient Solution Methods., , , , und . VLSI-SoC (Selected Papers), Volume 461 von IFIP Advances in Information and Communication Technology, Seite 188-207. Springer, (2013)