Als Praxisanteil am Seminar Mustererkennung mit Support-Vektor-Maschinen (SVM) im WS 01/02 und WS 02/03 sind einige Wettbewerbe entstanden, die nicht nur auf diese Veranstaltung begrenzt sind. Es werden jederzeit Lösungen auch von nicht-Seminarteilnehmern angenommen. Die besten Resultate werden auf dieser Seite aktuell gehalten.
H. Yu, J. Han, and K. Chang. Proceedings of the Eighth ACM SIGKDD International Conference on Knowledge Discovery and Data Mining, page 239--248. New York, NY, USA, ACM, (2002)