( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Balado, Luz"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Digital, Memory and Mixed-Signal Test Engineering Education: Five Centres of Competence in Europ.

, , , , , , , , , und . DELTA, Seite 135-139. IEEE Computer Society, (2004)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Luz Lewin

Gerhard Luz

Gerhard Luz

Wolfgang Luz

Luz Dambowy

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Digital, Memory and Mixed-Signal Test Engineering Education: Five Centres of Competence in Europ., , , , , , , , , und . DELTA, Seite 135-139. IEEE Computer Society, (2004)Test Engineering Education in Europe: the EuNICE-Test Project., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). MSE, Seite 85-86. IEEE Computer Society, (2003)Efficient Production Binning Using Octree Tessellation in the Alternate Measurements Space., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 35 (8): 1386-1395 (2016)Analog Switches in Programmable Analog Devices: Quiescent Defective Behaviours., , , und . J. Electron. Test., 20 (2): 143-153 (2004)Analog Switches in Programmable Analog Devices: Quiescent Defective Behaviours., , , und . IOLTW, Seite 99-103. IEEE Computer Society, (2002)BIST Technique by Equally Spaced Test Vector Sequences., , , , , , und . VTS, Seite 206-216. IEEE Computer Society, (2004)On the selection of efficient arithmetic additive test pattern generators logic test., , , , , , und . ETW, Seite 9-14. IEEE Computer Society, (2003)Indirect test of M-S circuits using multiple specification band guarding., , und . Integr., (2016)M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements., , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2014)On High-Quality, Low Energy BIST Preparation at RT-Level., , , , , und . LATW, Seite 52-57. IEEE, (2002)