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Disambiguierung von "Kajihara, Seiji"

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A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI.

, , , , und . ITC-Asia, Seite 73-78. IEEE, (2019)

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Seiji Miyashiro

Seiji Osawa

 

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Path delay test compaction with process variation tolerance., , , , , und . DAC, Seite 845-850. ACM, (2005)A novel capture-safety checking method for multi-clock designs and accuracy evaluation with delay capture circuits., , , , , , , und . VTS, Seite 197-202. IEEE Computer Society, (2012)On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing with Broadcast-Scan-Based Test Compression., , , , , und . VLSI Design, Seite 279-284. IEEE Computer Society, (2013)On an Effective Selection of IDDQ Measurement Vectors for Sequential Circuits., , und . Asian Test Symposium, Seite 147-152. IEEE Computer Society, (1999)An Efficient Procedure for Obtaining Implication Relations and Its Application to Redundancy Identification., , und . Asian Test Symposium, Seite 58-63. IEEE Computer Society, (1998)On Combining Pinpoint Test Set Relaxation and Run-Length Codes for Reducing Test Data Volume., , , und . ICCD, Seite 387-396. IEEE Computer Society, (2003)Hybrid BIST Using Partially Rotational Scan., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 379-384. IEEE Computer Society, (2001)On Improving Defect Coverage of Stuck-at Fault Tests., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 216-223. IEEE Computer Society, (2005)On compacting test sets by addition and removal of test vectors., , , und . VTS, Seite 202-207. IEEE Computer Society, (1994)DART: Dependable VLSI test architecture and its implementation., , , , , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)