( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Vallero, Alessandro"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Cross-layer system reliability assessment framework for hardware faults.

, , , , , , , , , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2016)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Sara Vallero

Alessandro Valeri

Fluorescence resonance energy transfer between multiple chromophores studied by single-molecule spectroscopy. Uni Düsseldorf, (2009)

Alessandro Zivelonghi

Alessandro Nova

Alessandro Topa

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Memristive Biosensors Integration With Microfluidic Platform., , , , , , und . IEEE Trans. Circuits Syst. I Regul. Pap., 63-I (12): 2120-2127 (2016)Resistance impact by long connections on electrical behavior of integrated Memristive Biosensors., , , , und . ISCAS, Seite 385-388. IEEE, (2016)ReDO: Cross-Layer Multi-Objective Design-Exploration Framework for Efficient Soft Error Resilient Systems., , und . IEEE Trans. Computers, 67 (10): 1462-1477 (2018)A novel methodology to increase fault tolerance in autonomous FPGA-based systems., , , , , und . IOLTS, Seite 87-92. IEEE, (2014)Bayesian network early reliability evaluation analysis for both permanent and transient faults., , , , , , , und . IOLTS, Seite 7-12. IEEE, (2015)SyRA: Early System Reliability Analysis for Cross-Layer Soft Errors Resilience in Memory Arrays of Microprocessor Systems., , , , , , , , , und 4 andere Autor(en). IEEE Trans. Computers, 68 (5): 765-783 (2019)Bayesian models for early cross-layer reliability analysis and design space exploration., , , und . IOLTS, Seite 143-146. IEEE, (2019)Securing bitstream integrity, confidentiality and authenticity in reconfigurable mobile heterogeneous systems., , , , , und . AQTR, Seite 1-6. IEEE, (2018)A Bayesian model for system level reliability estimation., , , , , , , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2015)Cross-layer reliability evaluation, moving from the hardware architecture to the system level: A CLERECO EU project overview., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). Microprocess. Microsystems, 39 (8): 1204-1214 (2015)