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Current Testable Design of Resistor String DACs., , , , und . ATS, Seite 399-403. IEEE, (2007)Development of FF Circuits for Measures Against Power Supply Noise., , und . IOLTS, Seite 48-51. IEEE, (2019)Simulation of resistive bridging fault to minimize the presence of intermediate voltage and oscillation in CMOS circuits., , und . Asian Test Symposium, Seite 120-124. IEEE Computer Society, (2000)Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection., und . Asian Test Symposium, Seite 119-124. IEEE Computer Society, (2012)Hybrid Rocket Engine Design Using Pairwise Ranking Surrogate-assisted Differential Evolution., , , und . GECCO Companion, Seite 1956-1962. ACM, (2023)Ramp Voltage Testing for Detecting Interconnect Open Faults.. IEICE Trans. Inf. Syst., 91-D (3): 700-705 (2008)Simulation-based analysis of FF behavior in presence of power supply noise., und . IOLTS, Seite 151-156. IEEE, (2017)IDDQ Sensing Technique for High Speed IDDQ Testing., , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 111-116. IEEE Computer Society, (2001)A BIC Sensor Capable of Adjusting IDDQ Limit in Tests., , , und . ATS, Seite 69-74. IEEE, (2006)A Case Study of Mixed-Signal Integrated Circuit Testing: An Application of Current Testing Using the Upper Limit and the Lower Limit., , und . ISCAS, Seite 77-80. IEEE, (1994)