Autor der Publikation

SE-U-Net: Contextual Segmentation by Loosely Coupled Deep Networks for Medical Imaging Industry.

, , , , und . ACIIDS, Volume 12672 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 678-691. Springer, (2021)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A ZigBee-Based Power Monitoring System with Direct Load Control Capabilities., , und . ICNSC, Seite 895-900. IEEE, (2007)MC framework: High-performance distributed framework for standalone data analysis packages over Hadoop-based cloud., , , und . GrC, Seite 27-32. IEEE Computer Society, (2013)Advanced studies of selection schemes for dual virtual-metrology outputs., , , , , und . CASE, Seite 421-426. IEEE, (2009)Development of a Hybrid-Cloud-based Wheel-Manufacturing Service with Ontology inference for machine tools., , , und . CASE, Seite 1440-1445. IEEE, (2015)Expandable-Convolutional-Block Neural Inference with Spatial-Fused Multi-resolution Features and Terse Convolution for IoT-Based Intelligent Automated Systems., , , , , , , und . ACIIDS (Companion), Volume 1716 von Communications in Computer and Information Science, Seite 276-286. Springer, (2022)Quad-Partitioning-Based Robotic Arm Guidance Based on Image Data Processing with Single Inexpensive Camera For Precisely Picking Bean Defects in Coffee Industry., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). ACIIDS (2), Volume 11432 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 152-164. Springer, (2019)A Virtual Metrology Scheme for Predicting CVD Thickness in Semiconductor Manufacturing., , , und . ICRA, Seite 1054-1059. IEEE, (2006)A secure collaborative e-diagnostics framework for semiconductor factories., , , , , und . CASE, Seite 185-190. IEEE, (2005)A ZigBee indoor positioning scheme using signal-index-pair data preprocess method to enhance precision., , , und . ICRA, Seite 548-553. IEEE, (2010)Development of a private cloud-based new-generation virtual metrology system., , , , und . CASE, Seite 910-915. IEEE, (2014)